+7 (495) 532-09-99

Атомно силовые, сканирующие зондовые микроскопы, дефектоскопия, спектральное оборудование. Каталог оборудования. Описания

Атомно силовые, сканирующие зондовые микроскопы, дефектоскопия, спектральное оборудование. Каталог оборудования. Описания

В основе зондовой нанотехнологии лежат уникальные приборы с зондом — сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) и атомно-силовой микроскоп (ACM).

Зондовая нанотехнология представляет собой совокупность методов и способов обработки и изменения свойств материала на уровне отдельных атомов, молекул и элементов нанометровых размеров с помощью острийного зонда с одновременной визуализацией и контролем процесса.

В сканирующем зондовом микроскопе зонд или АСМ кантилевер (cantilever) представляет собой металлический игольчатый электрод с очень тонким острием, закрепленный на трехкоординатном сканере. Зонд-острие, находящийся под электрическим потенциалом, располагается перпендикулярно поверхности на таком расстоянии от нее, при котором возникает туннельный ток. Туннельный ток зависит от величины зазора между острием и поверхностью, а также от величины электрического потенциала на зонде. Если с помощью цепи обратной связи при сканировании поверхности поддерживать постоянным туннельный ток, то можно получить информацию о рельефе исследуемой поверхности.

Приборостроение для нанотехнологий. Широкий спектр сканирующих зондовых микроскопов для научных исследований — «СИТЭК».

Прогресс в зондовой микроскопии и нанотехнологии напрямую связан с усложнением и интеллектуализацией зондовых инструментов.

Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением. За последние 10 лет сканирующая зондовая микроскопия превратилась из экзотической методики, доступной лишь ограниченному числу исследовательских групп, в широко распространенный и успешно применяемый инструмент для исследования свойств поверхности. В настоящее время практически ни одно исследование в области физики поверхности и тонкопленочных технологий не обходится без применения методов СЗМ. Развитие сканирующей зондовой микроскопии послужило также основой для развития новых методов в нанотехнологии — технологии создания структур с нанометровыми масштабами.